我院CMA实验室进行封装金线检测,会为您提供超声波探伤、拉伸强度、表面光洁度等检测服务,并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考:GB/T 14112-2015 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法等。
封装金线检测主要包括外观检查、尺寸测量和金线强度测试等多个方面。外观检查通过目视和显微镜检查金线表面,评估其平整度、光滑度和表面缺陷情况。尺寸测量是对金线的直径、长度和间距等尺寸参数进行测量,以确保其符合设计要求。金线强度测试则是对金线的抗拉强度和抗疲劳性能进行测试,以评估其可靠性和耐久性。
形状分类:
球形金线:封装成球形的金线,常用于焊接和连接电子器件。
扁平金线:封装成扁平形状的金线,常用于微芯片封装和触点连接。
立体金线:封装成立体形状的金线,常用于三维封装和微电子器件的连接。
材料分类:
纯金金线:由纯金制成的金线,具有优异的导电性和抗腐蚀性能。
合金金线:由金属合金制成的金线,常见的合金包括金-铜合金、金-铝合金等,具有适当的导电性和机械强度。
应用领域分类:
电子封装金线:用于半导体封装、芯片连接和电子器件的内部连线。
光学封装金线:用于光学器件的封装和连接,如光纤通信和光模块封装。
医疗封装金线:用于医疗器械的封装和连接,如心脏起搏器和植入式医疗器件。
直径测量、长度测量、表面光洁度、弯曲度、拉伸强度、抗腐蚀性、负载测试、电阻率、磁导率、超声波探伤、热处理效果、化学成分、尺寸偏差、表面硬度、电气性能、包装完整性、外观缺陷、内部缺陷。
光学显微镜、红外线光谱仪、拉曼光谱仪、傅里叶变换红外光谱仪、X射线光电子能谱仪、原子力显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜、电感耦合等离子体质谱仪等。
直径检测:测量封装金线的直径大小,确保其符合规定的尺寸要求。
强度测试:测量封装金线的拉伸强度,评估其抗拉性能和可靠性。
弯曲测试:测试封装金线的弯曲性能,评估其在弯曲应力下的可靠性和耐久性。
焊点测试:检测封装金线与引线焊接的质量,评估其焊接强度和连接可靠性。
均匀性检测:检测封装金线的直径和强度的均匀性,以确保其在封装过程中的一致性。
表面处理检测:评估封装金线表面处理的质量,如镀金、镀锡等,以确保其表面光滑和耐腐蚀性。
电阻测试:测量封装金线的电阻,以评估其导电性能和连接质量。
导电性测试:检测封装金线的导电性能,以评估其在电子封装中的可靠性和效率。
焊点间距测试:测量封装金线之间的焊点间距,确保其符合规定的间距要求。
外观检查:检查封装金线的外观质量,包括表面光滑度、无裂纹和变形等。
GB/T 14112-2015 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
GB/T 14113-1993 半导体集成电路封装术语
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GB/T 15876-2015 半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范
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GB/T 16525-2015 半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。