薄膜混合电路检测

测试样品

薄膜电阻器、钽薄膜电阻、技术陶瓷薄膜电阻等。

测试项目

尺寸、数据传输、电流测试、工作频率、可靠性检测、参数范围、精度、稳定性能、温度频率特性、真空蒸发测试、磁控溅射实验、成本测试、可靠性检测、牢固测试、温度系数、电阻范围宽度、高频损耗、介电常数、表面光洁度、基片平整度、化学稳定性、热膨胀系数、热导率检测等。

参考周期：常规测试7-15工作日，加急测试5个工作日。

参考标准

BS EN 165000-1-1996薄膜集成电路和混合集成电路.通用规范:性能鉴定程序

BS EN 165000-2-1996薄膜集成电路和混合集成电路.内部可视检验和专用试验

BS EN 165000-3-1996薄膜集成电路和混合集成电路.薄膜集成电路和混合集成电路制造商用自审定清单和报告

BS EN 165000-4-1996薄膜集成电路和混合集成电路.用户信息,产品评估级别一缆表和空白详细规范

BS EN 165000-5-1998薄膜集成电路和混合集成电路.质量鉴定程序

BS IEC 60748-23-1-2002半导体器件 集成电路 第23-1部分:混合集成电路和薄膜结构 生产线认证 通用规范

BS IEC 60748-23-2-2002半导体器件 集成电路 第23-2部分:混合集成电路和薄膜结构 生产线认证 内部目测检验和特殊试验

BS IEC 60748-23-3-2002半导体器件 集成电路 第23-3部分:混合集成电路和薄膜结构 生产线认证 制造商自我审定检查清单和报告

BS IEC 60748-23-4-2002半导体器件 集成电路 第23-4部分:混合集成电路和薄膜结构 生产线认证 空白详细规范

BS CECC 63000-1990电子元器件质量评定协调体系.总规范:薄膜和混合集成电路

BS CECC 63100-1985电子元器件质量评定协调体系.分规范.薄膜和混合集成电路

BS CECC 63101-1985电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范.薄膜和混合集成电路

以上是关于薄膜混合电路检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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