外延片检测

测试样品

LED外延片、硅、碳化硅、芯片、氮化镓外延片、半导体外延片、激光外延片、单晶硅外延片等。

测试项目

电阻变化率、厚度变化、过渡区宽度检测、电阻率检测、掺杂元素测试、量子效率测试、径向电阻率测试、电阻率允许偏差、晶体完整性、表面金属测试、表面/背面质量检测等。

参考周期：常规测试7-15工作日，加急测试5个工作日。

参考标准

GB/T 14139-2019硅外延片

GB/T 12964-2018硅单晶抛光片

GB/T 35310-2017200mm硅外延片

GB/T 14015-1992硅-兰宝石外延片

GB/T 30854-2014LED发光用氮化镓基外延片

GB/T 37053-2018氮化镓外延片及衬底片通用规范

GB/T 30653-2014Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法

GB/T 30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法

GB/T 30655-2014氮化物LED外延片内量子效率测试方法

GB/T 35308-2017太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

T/ICMTIA SM006-2021集成电路线宽65nm-14nm逻辑工艺用300mm P/P-型硅外延片

DL/T 2310-2021电力系统高压功率器件用碳化硅外延片使用条件

SJ 21536-2018微波功率器件及集成电路用砷化镓外延片规范

SJ 21534-2018微波功率器件用氮化镓外延片规范

SJ 21535-2018电力电子器件用碳化硅外延片规范

T/IAWBS 002-2017碳化硅外延片表面缺陷测试方法

SJ 20514A-2018微波功率晶体管用硅外延片规范

SJ 21493-2018碳化硅外延片表面缺陷测试方法

SJ/T 11471-2014发光二极管外延片测试方法

SJ/T 11470-2014发光二极管外延片

SJ 3242-1989砷化镓外延片

以上是关于外延片检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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