1. 栅极间距精度检测:测量精度±0.1μm,允许公差±0.5μm
2. 材料成分分析:元素含量检测下限达0.01wt%
3. 表面粗糙度测试:Ra≤0.05μm(测量范围0.01-10μm)
4. 热膨胀系数测定:温度范围-196℃~1200℃,CTE重复性误差≤0.1×10⁻⁶/K
5. 电子透过率测试:能量范围1-30keV,透过率偏差≤±1.5%
1. 钨钼合金栅极组件(W含量≥95%,Mo≤5%)
2. 氧化铝陶瓷绝缘基板(Al₂O₃纯度≥99.6%)
3. 镀金铜质支撑结构(镀层厚度2-5μm)
4. 钇稳定氧化锆涂层(YSZ涂层厚度50-200nm)
5. 钛合金真空焊接件(Ti-6Al-4V ELI级)
1. ASTM E3-11:金相试样制备与显微组织分析
2. ISO 4287:1997:非接触式激光干涉表面形貌测量
3. GB/T 4339-2008:热膨胀系数激光干涉法测定
4. ASTM E1508-12:电子探针微区成分分析
5. GB/T 13962-2009:电子光学仪器像质测试规范
1. Hitachi SU5000场发射扫描电镜:分辨率1nm@15kV,配备Oxford X-Max 80能谱仪
2. Zygo NewView9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,横向分辨率0.35μm
3. Netzsch DIL402C热膨胀仪:温度控制精度±0.1℃,膨胀量分辨率0.125nm
4. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:角度重复性±0.0001°,2θ范围-110°~168°
5. Keysight N6781A精密电源:输出精度±0.02%,纹波噪声<350μVrms
6. Agilent 4156C半导体参数分析仪:最小电流分辨率10aA
7. Thermo Scientific ARL EQUINOX 1000 XRF光谱仪:元素检测范围Be-U
8. Mitutoyo CMM三次元测量机:空间精度(1.9+L/250)μm
9. Pfeiffer Vacuum HiCube 80 Eco真空系统:极限真空度5×10⁻⁸mbar
10.Rigaku ZSX Primus IV波长色散X荧光光谱仪:检出限ppm级
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
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