费密电势检测

检测项目

1. 功函数测定：测量范围4.0-6.5 eV，精度±0.02 eV

2. 表面态密度分析：分辨率达1×10¹² cm⁻²·eV⁻¹

3. 载流子浓度测试：覆盖10¹⁴-10²⁰ cm⁻³量级

4. 能带弯曲度测量：角度分辨率0.1°

5. 界面势垒高度评估：误差范围±5 meV

检测范围

1. 半导体材料：硅基半导体、III-V族化合物

2. 金属材料：铜/铝导体、贵金属电极

3. 纳米材料：量子点、二维材料(石墨烯/MoS₂)

4. 光伏材料：钙钛矿薄膜、CIGS吸收层

5. 功能薄膜：ITO透明导电膜、ALD沉积层

检测方法

1. ASTM E673-18：功函数开尔文探针法

2. ISO 18117:2009：表面态XPS联合分析法

3. GB/T 26072-2010：半导体材料接触电势差测试

4. ISO 18516:2019：扫描探针显微术规范

5. GB/T 35031-2018：光伏材料能带结构测试

检测设备

1. KP Technology KP-6500：开尔文探针系统(功函数测量)

2. Bruker MultiMode 8：原子力显微镜(表面形貌与电势同步分析)

3. Thermo Scientific ESCALAB Xi+：X射线光电子能谱仪(化学态与能带分析)

4. Keysight B1500A：半导体参数分析仪(载流子输运特性测试)

5. Park Systems NX12：扫描探针显微镜(纳米级势场成像)

6. HORIBA UVISEL 2：椭偏光谱仪(薄膜厚度与介电函数测量)

7. Lake Shore CRX-VF：低温探针台(变温环境电势测试)

8. Agilent 4156C：精密半导体分析仪(界面态密度表征)

9. Omicron UHV-SPM：超高真空扫描探针系统(原子级表面电势分析)

10. Zahner Zennium Pro：电化学工作站(溶液环境界面势测量)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于费密电势检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

上一篇：连通轴螺母检测
下一篇：单头螺纹检测

本文地址：https://www.beijianceshi.com/bjcs-info/19137.html