1. 等效电容值(Ceq):测量范围0.1pF-100pF@1kHz±5% 2. 绝缘电阻(Riso):直流500V下≥10GΩ 3. 介质损耗角正切(tanδ):≤0.002@1MHz 4. 寄生电感(Lp):≤5nH@10MHz 5. 击穿电压(Vbd):AC 250V/min至失效阈值
1. 金属电极型电容开关(铜/银基材) 2. 柔性薄膜电容开关(PET/PI基材) 3. 多层陶瓷介质开关(X7R/X5R材质) 4. 高频射频开关(PTFE介质) 5. 耐高温开关(氧化铝陶瓷封装)
1. GB/T 6346-2015《电子设备用固定电容器》第7章电容精度测试 2. IEC 60384-1:2016 Clause 4.6绝缘电阻测量法 3. ASTM D150-11介电常数与损耗测试标准 4. JESD22-A115F静电放电敏感度分级测试 5. MIL-STD-202G Method 301介质耐压试验
1. Keysight E4980AL精密LCR测试仪(20Hz-2MHz) 2. Chroma 19032耐压绝缘测试仪(0-5kV DC/AC) 3. Tektronix MDO3104混合域示波器(1GHz带宽) 4. Agilent 4294A阻抗分析仪(40Hz-110MHz) 5. HIOKI IM3536高频LCR表(4Hz-8MHz) 6. ESPEC SH-642恒温恒湿箱(-70℃~180℃) 7. Trek 610E高压放大器(±10kV输出) 8. EM TEST DITO 2000瞬态脉冲发生器(8/20μs波形) 9. Omicron Bode100频响分析仪(1Hz-40MHz) 10. Keithley 6517B静电计(0.01fA分辨率)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
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2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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