霍尔效应检测

检测项目

1.载流子浓度：测量范围1e14-1e20cm⁻，精度3%

2.霍尔迁移率：测试范围10-1e5cm/(Vs)，分辨率0.1cm/(Vs)

3.电阻率：量程1e-4-1e6Ωcm，四探针法测量

4.霍尔系数：温度范围4-400K条件下测定

5.导电类型：N/P型判定误差率＜0.1%

检测范围

1.半导体材料：硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)单晶/薄膜

2.金属薄膜：铜(Cu)、铝(Al)纳米薄膜及合金材料

3.磁性材料：铁磁/反铁磁材料的反常霍尔效应分析

4.有机半导体：OLED材料载流子传输特性研究

5.二维材料：石墨烯、过渡金属硫化物(TMDC)异质结

检测方法

ASTMF76-08(2016)：标准霍尔效应测量规程

ISO17862:2013：微结构薄膜电学特性测试规范

GB/T13388-2020：半导体材料霍尔系数测试方法

GB/T15520-2021：金属薄膜电阻率四探针法

VanderPauw法：非规则样品电阻率测定技术

检测设备

1.LakeShore8400系列霍尔测量系统：支持0.01-2T磁场强度

2.KeysightB1500A半导体分析仪：10fA-1A电流分辨率

3.QuantumDesignPPMSDynaCool：集成低温(1.9K)强场(9T)环境

4.NanometricsHL5500PC：全自动四点探针台

5.MMRTechnologiesH-50变温样品架：80-500K温控精度0.1K

6.Agilent4294A阻抗分析仪：40Hz-110MHz频率响应

7.JandelRM3000测试台：四轴可调探针定位系统

8.OxfordInstrumentsTeslatronPT：超导磁体系统(0-12T)

9.Keithley6221电流源：10pA-100mA输出精度0.02%

10.JanisST-500低温恒温器：实现液氦温区(4.2K)测试环境

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于霍尔效应检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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