空穴电流检测

检测项目

1.载流子浓度：测量空穴浓度范围1e14-1e17cm⁻

2.迁移率测试：霍尔效应法测定50-1500cm/(Vs)

3.寿命分析：瞬态光电导法测定10ns-10ms级载流子寿命

4.陷阱密度：深能级瞬态谱(DLTS)检测1e10-1e15cm⁻eV⁻缺陷浓度

5.温度依赖性：-50℃至300℃温区迁移率变化曲线

检测范围

1.单晶半导体材料：硅(Si)、锗(Ge)等IV族元素晶体

2.化合物半导体：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等III-V族材料

3.有机半导体材料：P3HT、PCBM等共轭聚合物体系

4.薄膜材料：非晶硅(a-Si)、氧化锌(ZnO)透明导电膜

5.光电器件：太阳能电池PN结、LED发光层结构

检测方法

1.ASTMF76-08(2020)：霍尔效应测试标准方法

2.ISO18552:2017：半导体材料载流子寿命测量规范

3.GB/T1551-2021：硅单晶电阻率测定通用导则

4.GB/T4326-2022：化合物半导体霍尔系数测试规程

5.IEC62805-2:2017：光伏器件载流子输运特性测试方法

检测设备

1.Keithley4200A-SCS参数分析仪：支持IV/CV/Hall多模式测量

2.AgilentB1500A半导体分析仪：集成HCS(霍尔效应测试模块)

3.LakeShoreCRX-VF低温探针台：温控范围4K-675K

4.SemilabWT-2000光电导衰减测试系统：时间分辨率达10ns

5.PhysTechECOPIAHMS-5000霍尔效应测量系统：磁场强度1.35T

6.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持1000V/100A高压大电流测试

7.OxfordInstrumentsMicrostatHiResII低温恒温器：温度稳定性0.01K

8.FERROTEC真空探针台：真空度≤510⁻⁵Torr

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于空穴电流检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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