1.晶格参数测定:包括a轴(0.001)、b轴(0.001)、c轴(0.001)长度测量
2.轴角分析:α角(0.01)、β角(0.01)、γ角(0.01)精度控制
3.晶胞体积计算:基于V=abc√(1-cosα-cosβ-cosγ+2cosαcosβcosγ)公式验证
4.原子坐标精修:采用Rietveld法优化原子位置(x,y,z)至0.0001精度
5.理论密度计算:通过Z值分子量/(N_AV)公式验证实测密度偏差≤0.5%
1.金属合金材料:包括铝合金(如AA6061)、钛合金(如Ti-6Al-4V)等立方/六方晶系材料
2.无机非金属材料:涵盖氧化铝陶瓷(α-Al₂O₃)、碳化硅(4H-SiC)等硬质材料
3.有机晶体材料:适用于药物晶体(如布洛芬单晶)、MOF材料等复杂结构体系
4.纳米晶体材料:针对粒径<100nm的纳米颗粒进行晶格畸变分析
5.半导体材料:包括硅单晶(111晶向)、氮化镓外延层等电子级晶体表征
1.ASTME395-18:标准试验方法用于立方晶系材料的晶格常数测定
2.ISO20203:2006:X射线衍射法测定铝用碳材料的晶胞参数规程
3.GB/T30704-2014:无机非金属材料X射线衍射分析方法
4.GB17359-2012:微束分析能谱法定量分析用标准测试方法
5.JISK0131:2012:X射线衍射通用规则中的角度校准程序
6.DINEN13925-3:2005:无损检测-多晶和非晶材料的X射线衍射分析
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备9kW旋转阳极靶,分辨率≤0.01(2θ)
2.BrukerD8ADVANCEDavinci设计衍射仪:具备LynxEye阵列探测器,扫描速度≥10000cps
3.PANalyticalEmpyrean多功能衍射仪:支持高温附件(-196℃~1600℃)原位分析
4.ThermoFisherARLEQUINOX3000XRD系统:采用微焦斑光源(<50μm)进行微区分析
5.ShimadzuXRD-7000实验室级衍射仪:配备石墨单色器,CuKα辐射波长1.5406
6.MalvernPanalyticalX'Pert3MRD高分辨衍射仪:配置四轴测角仪,角度重复性0.0001
7.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜:搭配OxfordEBSD系统进行亚微米级晶体取向分析
8.HitachiTM4000桌面电镜:配备BrukerQuantaxEDS/EBSD联用快速筛查系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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