1.晶胞常数测定:包括a、b、c轴长度(精度0.001)
2.晶面间距计算:基于布拉格方程测定d值(误差≤0.0001nm)
3.晶体对称性分析:确定空间群类型(Pm-3m等230种分类)
4.轴角测量:α、β、γ角度偏差(分辨率0.01)
5.晶格畸变率:计算应变引起的晶格膨胀/收缩(灵敏度10⁻⁴)
1.金属合金:高温合金、铝合金等多相体系晶体结构表征
2.半导体材料:SiC、GaN等宽禁带半导体外延层分析
3.陶瓷材料:氧化锆、氮化硅等烧结体晶相鉴定
4.纳米材料:量子点、二维材料的尺寸效应研究
5.高分子晶体:聚合物单晶的链段排列解析
1.X射线衍射法:ASTME975-20《残余应力测定》、GB/T8362-2018《金属材料X射线应力测定方法》
2.电子背散射衍射:ISO24173:2019《EBSD取向测量规范》
3.中子衍射法:GB/T36083-2018《残余应力中子衍射测试方法》
4.同步辐射技术:ISO/TS21432:2021《同步辐射X射线应力分析》
5.透射电镜选区衍射:ASTME3061-17《TEM晶体学标定指南》
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备9kW旋转阳极光源,支持高低温原位测试
2.BrukerD8ADVANCEXRD系统:配置LYNXEYEXE-T探测器,角度重复性0.0001
3.TESCANMIRA3SEM-EBSD联用系统:空间分辨率达0.1μm@20kV
4.PANalyticalEmpyreanXRD平台:具备PDF卡片自动匹配功能
5.JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜:点分辨率0.08nm的原子级结构分析
6.MalvernPanalyticalAeris台式XRD:快速相分析(5分钟/样品)
7.ProtoLXRD残余应力分析仪:适用于大型构件现场检测
8.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器:采集速度达4000点/秒
9.BrukerD2PHASER台式衍射仪:配备LynxEye阵列探测器
10.ShimadzuXRD-7000:配备高温附件(最高1600℃)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
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5、委托完成,我方提供售后服务。