晶体管检测

检测范围

二极管、三极管、场效应管、晶闸管等晶体管。

检测项目

检波检测、整流、放大、开关、稳压性能检测、消耗率、电流容量、耐高压性能、耐腐蚀强度、结构、特征频率、耗散功率检测、耐高温性能、击穿电压、饱和电压、电压、电流、工作频率检测、密度、耐冲击性能、耐冲击性能、耐酸碱性能、工作温度检测。

标准参考

GB/T 4587-1994半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

GB/T 6217-1998半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范

GB/T 6218-1996开关用双极型晶体管空白详细规范

GB/T 6219-1998半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范

GB/T 6352-1998半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范

GB/T 6590-1998半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范

GB/T 7576-1998半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范

GB/T 7577-1996低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范

GB/T 10067.34-2015电热装置基本技术条件第34部分：晶体管式高频感应加热装置

GB/T 15449-1995管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范

GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)

GB/T 21039.1-2007半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

JB/T 8951.1-1999绝缘栅双极型晶体管

SJ/T 2217-2014硅光电晶体管技术规范

以上是关于晶体管检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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