1. 纯度测定:ScPO₄主成分含量≥99.9%,采用XRD定量相分析
2. 杂质元素分析:Al/Fe/Ca/Mg等金属杂质≤50ppm(ICP-MS法)
3. 晶体结构表征:晶胞参数a=6.573±0.003Å,c=5.821±0.002Å(XRD Rietveld精修)
4. 粒度分布:D50=2.5-5.0μm(激光粒度仪Mastersizer 3000)
5. 热稳定性测试:TG-DSC分析(25-1200℃升温速率10℃/min)
1. 稀土催化剂用高纯磷酸钪粉体(ScPO₄·nH₂O)
2. 光学镀膜材料(ScPO₄单晶基片)
3. 固态电解质前驱体(掺杂型ScPO₄复合材料)
4. 核废料固化体(ScPO₄陶瓷基体)
5. 半导体掺杂源(超高纯无水ScPO₄颗粒)
ASTM E2941-21《微波消解-ICP-MS测定稀土化合物中杂质元素》
ISO 14720-1:2013《X射线衍射定量相分析方法》
GB/T 23413-2009《纳米材料粒度分布测试通则》
GB/T 17473.7-2008《电子材料热重分析法》
JIS R 1639-1999《稀土磷酸盐晶体结构测试规范》
1. Rigaku SmartLab 9kW X射线衍射仪:配备HyPix-3000探测器,角度精度±0.0001°
2. PerkinElmer NexION 350D ICP-MS:检出限达0.1ppt,质量范围2-290amu
3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
4. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪:温度分辨率0.1℃,TG灵敏度0.1μg
5. JEOL JSM-7900F场发射电镜:分辨率0.8nm@15kV,配备EDS能谱仪
6. Agilent 8900 ICP-MS/MS:MS/MS模式消除质谱干扰
7. Bruker D8 ADVANCE XRD:配备LYNXEYE XE-T探测器
8. Shimadzu UV-3600i Plus分光光度计:波长范围185-3300nm
9. Mettler Toledo TGA/DSC3+热重分析仪:最大称重850mg
10. Horiba LA-960激光散射仪:干湿法双模式测量系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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